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Case 最近案例
說明: NFC模塊測試條件測試頻率:13.56MHz測試參數:L、Q or Rs磁導率:μ' & μ' at 13.56MHz飽和DC偏置電流: 1A ~ 10AWPC模塊測試條件測試頻率范圍: 100KHz ~ 500KHz測試參數:L ~10uH、Q > one certain figure、Rs ≥ 30mΩ自諧振頻率范圍:2MHz ~ 15MHz飽和DC偏置電流:1A ~ 10A
說明: 現在市場上測試的一些材料表面無法加工甚至不可能加工至非常光滑,兩面也無法做到平行度非常好,這樣用接觸法測試這種材料的介電常數由于有空氣間隙的將會存在非常大的誤差,如果要求測試這種材料頻率從20Hz~40MHz幾乎不可能,測試樣品舉例如下面幾幅圖片。 用非接觸法測試上述這些材料的介電常數,不進對材料的表面的粗糙度還有兩個面的平行度的要求不是特別高,測試的準確度高。 理論上的可行性: 其中: Cg:沒有被測物體,兩個電極板之間的電容 Cm:有被測物體,兩個電極板之間的電容 Dg:沒有被測物體,兩個電極板形成電容的損耗 Dm:有被測物,兩個電極板行程電容的損耗 tg:電極板之間的空氣間隙厚度 tm:材料的厚度 測試夾具: WK 1J1020 測試夾具配合穩科 6500B系列精密阻抗分析儀或者在穩科 6500P 高頻 LCR 表上使用,最高頻率可達 40MHz。夾具設計用于夾持平面圓盤狀材料,材料的直徑不小于 38mm,厚度不大于 15mm。1020 夾具的兩端電極之間的間距是可調整的,并通過千分尺測量,夾具圖片如下圖。 配合1J1020的測試軟件: 在WK 6500B(P)有軟件選配項/K是專門用于測試材料介電常數和磁導率的軟件,可以通過此軟件進行設定相關參數,在儀表上可以直接讀出材料的介電常數或者繪制材料的介電常數曲線,軟件的界面如下圖。 更多的資料可以參考 6500 K option Material
說明: WK阻抗分析儀在材料表征和測量領域新標桿                                                                               ——Partulab高溫介電測量系統 2015年1月30日,武漢佰力博科技(Partulab)隆重宣布新產品VDMS系列上市銷售,此次發布的VDMS系列產品主要有:高溫介電測量系統VDMS2000H和變溫介電測量系統VDMS2000HL,主要應用于研究材料表征和材料介電性能,實現了高溫、低溫、變溫、真空、氣氛等條件下材料表征性能測量,該產品的成功發布,標志著我國在材料表征測量行業取得了突破性進行。 VDMS系列產品不僅在多條件下進行測量,而且操作簡單,分析數據清晰可見,此外,在研發過程中已經考慮了多種產品的集成,省去了研究過程中設備購買的復雜過程,集成化程度非常高,VDMS系統可以WK公司6500系列產品無縫連接,...
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